產(chǎn)品展示 PRODUCTS
X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)
產(chǎn)品型號(hào)： |
iKon-L SY |
產(chǎn)品名稱： |
X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī) |
產(chǎn)品報(bào)價(jià)： |
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簡(jiǎn)單介紹： |
X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)，為小型實(shí)驗(yàn)室或同步輻射線站提供探測(cè)解決方案。這些探測(cè)器被廣泛運(yùn)用在不同研究領(lǐng)域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測(cè)的材料科學(xué)、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領(lǐng)域。 |
iKon-L SYX-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)的詳細(xì)資料
X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)：Andor能夠提供一系列高靈敏、高動(dòng)態(tài)范圍和快速探測(cè)的CCD、sCMOS和EMCCD相機(jī)，為小型實(shí)驗(yàn)室或同步輻射線站提供探測(cè)解決方案。這些探測(cè)器被廣泛運(yùn)用在不同研究領(lǐng)域，例如涉及到EUV、X射線、中子或電子探測(cè)的材料科學(xué)、等離子體研究、生物樣本分析或光束/源表征等研究領(lǐng)域。
X-Ray、EUV、電子和中子探測(cè)相機(jī)特性：
TE冷卻至-55°C
95%的峰值QE高探測(cè)器靈敏度
標(biāo)準(zhǔn)配置為“獨(dú)立"鈹窗，厚度為250微米的鈹箔窗
13.5 x 13.5um像素大小動(dòng)態(tài)范圍和分辨率的最佳平衡
超低噪聲讀出智能低噪聲電子設(shè)備提供最“安靜"的系統(tǒng)噪聲性能
產(chǎn)品規(guī)格 | iKon-L SY |
芯片類型 | 背照CCD |
快門 | 全局快門 |
數(shù)據(jù)接口 | USB 2.0 |
分辨率 | 2048 x 2048 |
彩色/黑白 | 黑白 |
幀率 | 0.953 |
